大口徑元件吸收缺陷檢測儀（PTM-2000-LA）,基于光熱掃描顯 微成像技術，適用于各類大口徑固體表面及亞表面缺陷的檢測和分析，特別是各類大口徑光學薄膜、光學元器件表面及亞表面吸收缺陷的檢測和分析。本系統是一款非接觸式、高分辨率、全自動化檢測儀器，可根據用戶具體需求進行紫外、可見或紅外波段的精密檢測和分析。

光學弱吸收測量儀，是一種基于激光誘導效應的光學測試設備?？梢詫鈱W薄膜、光學晶體、激光晶體、各類石英等材料進行吸收缺陷測量和吸收均勻性分布測量。分為檢測表面吸收和體內材料吸收。 光學薄膜吸收測量儀（PTS-2000）,適用于各類光學薄膜和光學元器件表面吸收率的檢測和分析。根據客戶具體需求，可進行紫外、可見或者近紅外波段的精密測量。 光學材料體內吸收測量儀（PTB-2000 ）,適用于各類光學元器件及材料體內吸收率的檢測和分析?？梢詼y量吸收均勻性分布、吸收缺陷、摻雜濃度等。對于光學材料內部的質量和指導生產過程具有重要作用。

全自動表面缺陷檢測設備(AOSI-3000S),包含全自動上下料模塊和檢測模塊，主要用于光學元件，包括鏡片的外觀質量的全自動檢測與分揀，包括劃痕、 麻點、印記、清洗殘留、鍍膜缺陷等。相比人工目檢，具有高靈敏度、高重復性等特點。

大口徑元件散射缺陷檢測儀，適用于大口徑光學材料、半導體材料和金屬等材料拋光后的表面缺陷檢測和分析。本設備是一款非接觸式、全自動的檢測儀器，能夠高速檢測待測表面的劃痕、麻點、臟污等特性。

光學薄膜吸收測量儀（PTS-1000）,適用于各類光學薄膜和光學元器件表面吸收率的檢測和分析。 根據客戶具體需求，可以進行紫外、可見或者近紅外波段的精密測量。

半自動表面缺陷檢測設備，主要用于光學鏡片的外觀質量檢測，包括劃痕、麻點、 印記、清洗殘留、鍍膜缺陷等。與人工目檢相比，本設備具備高靈敏度、高重復性等特點。

大口徑元件缺陷多模態檢測儀(MMDI-2000-LA)，結合全口徑缺陷快速識別與子孔徑高靈敏度、高分辨率顯微成像的檢測方式，可利用激光散射對大口徑光學元件進行全口徑快速掃描成像，對缺陷尺度、位置、形態進行統計分析，并結合使用光熱弱吸收、明場顯微成像、暗場顯微成像、激光共聚焦顯微成像等不同模態檢測用戶關注缺陷區域，獲得關注區域的缺陷信息。

光學吸收光譜儀(PTAS-2000 ),適用于光學元件和材料表面、亞表面、體內吸收光譜的檢測分析。本系統是—款非接觸式、全自動的檢測儀器，可根據客戶需求進行紫外到紅外全波段的精密檢測和分析。

多模態表面缺陷檢測儀(MMDI-2000 ),結合全口徑缺陷快速識別與子孔徑高峰靈敏度、高分辨率顯微成像的檢測方式，對表面缺陷尺度、位置、形態進行統計分析，并可結合使用光熱弱吸收、顯微成像等不同模態檢測用戶關注的缺陷區域，獲取關注區域的缺陷信息。也可以利用微分干涉相襯顯微成像技術，實現凸起和凹坑的區分。

大口徑元件分光光度計(SPM-2000-LA ),基于雙光路分光光度檢測技術，通過光譜數據處理分析各光譜峰值位置、計算膜層的不均勻性。該設備可適用于各類光學元件透射特性、反射特性的檢測，包括薄膜材料膜層厚度均勻性的檢測和分析。本設備是一款非接觸式、高分辨率、全自動化檢測儀器，可根據用戶具體需求進行紫外、可見或紅外波段的精密檢測和分析。

激光紅外光譜儀（LIRS-2000），用于紅外材料在不同溫度條件或壓力條件下的變角度投射光譜測試。

亞表面缺陷檢測儀(SSDI—2000 )，集成包括光學顯微成像、激光共聚焦成像在內的多種檢測模式，用于光學元件表面、亞表面缺陷的檢測與分析，可在深度方向對樣品進行分層檢測。