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光學弱吸收測量儀（科研級）

光學弱吸收測量儀，是一種基于激光誘導效應的光學測試設備?？梢詫鈱W薄膜、光學晶體、激光晶體、各類石英等材料進行吸收缺陷測量和吸收均勻性分布測量。分為檢測表面吸收和體內材料吸收。 光學薄膜吸收測量儀（PTS-2000）,適用于各類光學薄膜和光學元器件表面吸收率的檢測和分析。根據客戶具體需求，可進行紫外、可見或者近紅外波段的精密測量。 光學材料體內吸收測量儀（PTB-2000 ）,適用于各類光學元器件及材料體內吸收率的檢測和分析?？梢詼y量吸收均勻性分布、吸收缺陷、摻雜濃度等。對于光學材料內部的質量和指導生產過程具有重要作用。

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光學弱吸收測量儀（工業級）

光學薄膜吸收測量儀（PTS-1000）,適用于各類光學薄膜和光學元器件表面吸收率的檢測和分析。 根據客戶具體需求，可以進行紫外、可見或者近紅外波段的精密測量。

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光學吸收光譜儀

光學吸收光譜儀(PTAS-2000 ),適用于光學元件和材料表面、亞表面、體內吸收光譜的檢測分析。本系統是—款非接觸式、全自動的檢測儀器，可根據客戶需求進行紫外到紅外全波段的精密檢測和分析。

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激光紅外光譜儀

激光紅外光譜儀（LIRS-2000），用于紅外材料在不同溫度條件或壓力條件下的變角度投射光譜測試。