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大口徑元件吸收缺陷檢測儀

大口徑元件吸收缺陷檢測儀(PTM-2000-LA),基于光熱掃描顯 微成像技術,適用于各類大口徑固體表面及亞表面缺陷的檢測和分析,特別是各類大口徑光學薄膜、光學元器件表面及亞表面吸收缺陷的檢測和分析。本系統是一款非接觸式、高分辨率、全自動化檢測儀器,可根據用戶具體需求進行紫外、可見或紅外波段的精密檢測和分析。

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02

大口徑元件散射缺陷檢測儀

大口徑元件散射缺陷檢測儀,適用于大口徑光學材料、半導體材料和金屬等材料拋光后的表面缺陷檢測和分析。本設備是一款非接觸式、全自動的檢測儀器,能夠高速檢測待測表面的劃痕、麻點、臟污等特性。

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03

大口徑元件缺陷多模態檢測儀

大口徑元件缺陷多模態檢測儀(MMDI-2000-LA),結合全口徑缺陷快速識別與子孔徑高靈敏度、高分辨率顯微成像的檢測方式,可利用激光散射對大口徑光學元件進行全口徑快速掃描成像,對缺陷尺度、位置、形態進行統計分析,并結合使用光熱弱吸收、明場顯微成像、暗場顯微成像、激光共聚焦顯微成像等不同模態檢測用戶關注缺陷區域,獲得關注區域的缺陷信息。

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04

大口徑元件分光光度計

大口徑元件分光光度計(SPM-2000-LA ),基于雙光路分光光度檢測技術,通過光譜數據處理分析各光譜峰值位置、計算膜層的不均勻性。該設備可適用于各類光學元件透射特性、反射特性的檢測,包括薄膜材料膜層厚度均勻性的檢測和分析。本設備是一款非接觸式、高分辨率、全自動化檢測儀器,可根據用戶具體需求進行紫外、可見或紅外波段的精密檢測和分析。

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05

大口徑元件高透/反射率測量儀

大口徑元件高透/反射率測量儀(HTR-2000-LA ),主要應用于光學元件的透射率、反射率測量,能夠對反 射率高達99.99%或透射率高達99.99%的光學元件的透/反特性進行高精度測量。能夠適用于不同尺寸特別是大口徑尺寸的光學元件,并根據元件尺寸信息自動規劃檢測路徑,滿足客戶對感興趣區域的透射/反射特性檢測。

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06

其他定制設備

可根據用戶需求,提供各類定制化解決方案,包括光學等材料的表面、亞表面、體內缺陷檢測,吸收率、反射率、透過率等檢測。

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