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          光熱掃描顯微鏡


          光熱掃描顯微鏡

                 二維光熱掃描顯微鏡(Model PTM-2000),適用于各類固體表面及亞表面缺陷的檢測和分析,特別是各類光學薄膜、光學元器件表面及亞表面吸收缺陷的檢測和分析。本系統是一款非接觸式、高分辨率、全自動化檢測儀器,可以根據用戶具體需求進行紫外、可見或者近紅外波段的精密檢測和分析。

                 三維光熱掃描顯微鏡(Model PTM3D-2000),適用于各類光學元器件及材料體內缺陷的三維檢測和分析。本系統是一款非接觸式、高分辨率、全自動化檢測儀器。

             產品特征

          1、高靈敏度;

          2、高重復精度;

          3、一鍵式操作;

          4、樣品更換便捷、無需重復校準;

          5、可對吸收缺陷進行二維(三維)高分辨率成像;

          6、可進行樣品或者選定的缺陷點在激光輻照下的穩定性分析;

          7、泵浦光源:可以標配,也可根據用戶需求選配或者由客戶自配。

             主要技術參數
           光熱掃描顯微鏡

          產品類別

          二維光熱掃描顯微鏡二維光熱掃描顯微鏡

          型號

          PTM-2000PTM3D-2000

          檢測靈敏度

          0.1 ppm0.1 ppm

          檢測波長

          355 nm, 532 nm, 1064 nm或定制波長

          355 nm, 532 nm, 1064 nm或定制波長

          泵浦激光

          根據客戶需求配置

          根據客戶需求配置

          橫向空間分辨率

          在適當泵浦光波長條件下可達亞微米分辨率

          橫向3 μm,縱向20 μm

          樣品尺寸

          50 mmx50 mm x10 mm

          50 mmx50 mm x10 mm

          注:可以根據客戶需求提供同類特制儀器和相關測試的解決方案。

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