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          光學元件三維缺陷檢測儀


          光學元件三維缺陷檢測儀

                 光學元件三維缺陷檢測儀(Model LS3D-2000),適用于各類光學材料的三維缺陷檢測和分析,特別是光學晶體、光學玻璃的三維缺陷檢測和分析。本系統是一款快速、簡便、高靈敏度檢測儀器。

             產品特征

          1、速度快;

          2、高靈敏度;

          3、一鍵式全自動操作。

             主要技術參數
          光學元件三維缺陷檢測儀

          型號

          LS3D-2000

          缺陷檢測靈敏度

          10 μm

          樣晶尺寸范圍

          尺寸可訂制

          檢測速度

          <2h@ 100 mmx 100 mmx20 mm

          設備重量

          300kg

          注:可以根據客戶需求提供同類特制儀器和相關測試的解決方案。

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