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          半自動光學元件表面缺陷檢測系統


          半自動光學元件表面缺陷檢測系統

                 半自動光學元件表面缺陷檢測系統,是一款高分辨自動光學檢測儀器,可對各種平面、球面、非球面光學元件的缺陷及外觀進行自動化檢測。該系統可根據美標、國標或客戶自定義標準對劃痕和麻點等表面缺陷進行檢測。儀器內置功能齊全的分析軟件,能為光學表面質量提供快速和可靠的判斷。

             產品特征

          1、人工智能操作;

          2、高性能數字相機;

          3、自動檢測、自動判別;

          4、穩定、均勻的照明光源; 

          5、高精度的自動定位和掃描平臺。

             主要技術參數
          半自動光學元件表面缺陷檢測系統
          型號OSI---3000OSI---3000S
          樣品類型平面平面、球面、非球面
          檢測標準美軍標、國標或客戶自定義標準美軍標、國標或客戶自定義標準
          檢測效率

          1200片/小時

          (針對40/20標準,直徑25.4mm樣品)

          1200片/小時

          (針對40/20標準,直徑25.4mm樣品)

          樣品尺寸≤100 mm x 100mm≤100 mm x 100mm

          注:可根據用戶需求,提供同類特制系統。

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