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          全自動光學元件表面缺陷檢測系統


          全自動光學元件表面缺陷檢測系統

                 全自動光學元件表面缺陷檢測系統(Model AOSI-3000S),是一款專為中小口徑光學元件表面的質量評價而設計開發的精密檢測設備,該設備可以根據不同標準對表面缺陷進行快速檢測分析和識別,自動分揀不合格產品,可以滿足客戶大規模批量化生產和檢測需求。

             產品特征

          1、自動上下料;

          2、自動檢測;

          3、自動分選;

          4、能兼容平面、球面、非球面元件;

          5、檢測標準:美軍標、國標或客戶自定義標準。

             主要技術參數
          全自動光學元件表面缺陷檢測系統
          型號AOSI- -3000S
          檢測標準美軍標、國標或客戶自定義標準
          最大檢測效率≥2400片/小時
          最大樣品尺寸

          1英寸

          樣品類型

          平面、球面、非球面等

          上下料方式自動
          不合格品處理方式自動分揀

          注:可根據用戶需求,提供同類特制系統。

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