01

全自動表面缺陷檢測設備

全自動表面缺陷檢測設備(AOSI-3000S),包含全自動上下料模塊和檢測模塊,主要用于光學元件,包括鏡片的外觀質量的全自動檢測與分揀,包括劃痕、 麻點、印記、清洗殘留、鍍膜缺陷等。相比人工目檢,具有高靈敏度、高重復性等特點。

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02

半自動表面缺陷檢測設備

半自動表面缺陷檢測設備,主要用于光學鏡片的外觀質量檢測,包括劃痕、麻點、 印記、清洗殘留、鍍膜缺陷等。與人工目檢相比,本設備具備高靈敏度、高重復性等特點。

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03

多模態表面缺陷檢測儀

多模態表面缺陷檢測儀(MMDI-2000 ),結合全口徑缺陷快速識別與子孔徑高峰靈敏度、高分辨率顯微成像的檢測方式,對表面缺陷尺度、位置、形態進行統計分析,并可結合使用光熱弱吸收、顯微成像等不同模態檢測用戶關注的缺陷區域,獲取關注區域的缺陷信息。也可以利用微分干涉相襯顯微成像技術,實現凸起和凹坑的區分。

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04

亞表面缺陷檢測儀

亞表面缺陷檢測儀(SSDI—2000 ),集成包括光學顯微成像、激光共聚焦成像在內的多種檢測模式,用于光學元件表面、亞表面缺陷的檢測與分析,可在深度方向對樣品進行分層檢測。

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05

三維缺陷檢測儀

三維缺陷檢測儀(LS3D-2000 ),適用于大口徑光學材料的三維缺陷檢測和分析,本系統是一款快速、簡便、高靈敏度的檢測儀器。

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06

光熱掃描顯微鏡

二維光熱掃描顯微鏡(PTM-2000 ),適用于各類固體表面及亞表面吸收缺陷的檢測和分析,特別是各類光學薄膜、光學元器件表面及亞表面吸收缺陷的檢測和分析。本系統是一款非接觸式、高分辨率、全自動化檢測儀器,可以根據用戶需求進行紫外、可見或者近紅外波段的精密檢 測和分析。三維光熱掃描顯微鏡(PTM3D-2000 ),適用于各類光學元器件及材料體內吸收缺陷的三維檢測和分析。本系統是 —款非接觸式、高分辨率、全自動化檢測儀器。

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07

激光共聚焦顯微鏡

激光共聚焦顯微鏡(LCM-2000),主要用材料表面、 亞表面缺陷檢測,形貌分析等。

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